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J-GLOBAL ID：201802213839974506   Reference number：18A1700395

シリコン熱光学係数の精密測定による非接触温度測定の高精度化

Author (3)： KAMEDA ASAKI (広島大 大学院) ,  HANAFUSA HIROAKI (広島大 大学院) ,  HIGASHI SEIICHIRO (広島大 大学院)
Material： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
Volume： 79th  Page： ROMBUNNO.21a-233-4  Publication year： Sep. 05, 2018 
JST Material Number： Y0055B  ISSN： 2758-4704  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *silicon ,  thermooptic effect ,  contactless measurement ,  thermometry ,  reflectivity ,  *refractive index ,  infrared laser ,  waveform ,  *surface temperature
Semi thesaurus term： *過渡反射率 ,  optical reflectance

JST classification (1)： Optical properties of condensed matter in general  (BM08010A)

Terms in the title (7)： シリコン ,  光学 ,  係数 ,  精密測定 ,  非接触 ,  温度測定 ,  高精度化