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J-GLOBAL ID：201802215665907577   Reference number：18A0453048

厚膜レジストを用いたオプトジェネティクス解析のための局所光刺激機構と神経電位解析アレイの集積化

Author (9)： UMINO YOHEI (群馬大) ,  UENO HIDETAKA (群馬大) ,  ITO TAKAHIRO (群馬大) ,  IIDA TAIKI (群馬大) ,  YAMADA KO (群馬大) ,  KOTERA HIDETOSHI (京大) ,  KOMAI SHOJI (奈良先端科学技術大学院大) ,  SUZUKI TAKAAKI (群馬大) ,  SUZUKI TAKAAKI (JST-さきがけ)
Material： Symposium on Microjoining and Assembly Technology in Electronics  (Proceedings of the Symposium on Microjoining and Assembly Technology in Electronics)
Volume： 24th  Page： 399-400  Publication year： Jan. 30, 2018 
JST Material Number： L2496A  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *genetic technique ,...
Semi thesaurus term： *optogenetics ,...

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JST classification (2)： Medical materials  (GA05040H) ,  Research methods in genetics  (EC01020N)

Terms in the title (9)： 厚膜 ,  レジスト ,  オプトジェネティクス ,  解析 ,  光刺激 ,  神経 ,  電位 ,  アレイ ,  集積化