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J-GLOBAL ID：201802224584450141   Reference number：18A0634178

エネルギー分散型X線回折法に向けてのCdTeピクセル検出器開発

Author (8)： TOYOKAWA HIDENORI (JASRI/SPring-8) ,  SAJI CHOJI (JASRI/SPring-8) ,  KAWASE MORIHIRO (JASRI/SPring-8) ,  SHIRO AYUMI (量研機構) ,  YASUDA RYO (量研機構) ,  SHOBU TAKAHISA (原子力発電技術機構) ,  SUENAGA ATSUSHI (豊和産業) ,  IKEDA HIROKAZU (ISAS/JAXA)
Material： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
Volume： 65th  Page： ROMBUNNO.20p-A304-5  Publication year： Mar. 05, 2018 
JST Material Number： Y0054B  ISSN： 2436-7613  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *energy dispersive diffraction ,  cadmium telluride ,  compound semiconductor ,  *pixel detector ,  *X-ray detector ,  detection efficiency ,  X-Ray Diffraction ,  synchrotron radiation facility ,  synchrotron x-ray diffraction

JST classification (1)： Radiation detection and detectors  (AD08020J)

Terms in the title (5)： エネルギー分散 ,  X線回折法 ,  CdTe ,  ピクセル検出器 ,  開発