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J-GLOBAL ID：201802234257900843   Reference number：18A1790634

Nanoscale investigation of bulk heterojunction organic solar cell by scanning capacitance force microscopy

走査型静電容量力顕微鏡によるバルクヘテロ接合有機太陽電池のナノスケールの研究

Author (3)： MOCHIZUKI Shota (Chiba Inst. of Technol., Chiba, JPN) ,  SATOH Nobuo (Chiba Inst. of Technol., Chiba, JPN) ,  KATORI Shigetaka (National Inst. of Technol., Tsuyama Coll., Okayama, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics  (JJAP)
Volume： 57  Issue： 8S1  Page： 08NB05.1-08NB05.5  Publication year： Aug. 2018 
JST Material Number： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *force microscope ,  *electrostatic capacity ,  *heterojunction ,  *solar cell ,  scale ,  atomic force microscope ,  *fullerene ,  active layer ,  band structure ,  charge isolation
Semi thesaurus term： *scanning force microscope ,  *bulk-heterojunction ,  *organic solar cell ,  nanoscale ,  Kelvin probe force microscope ,  frequency modulation atomic force microscope ,  *(6,6)-phenyl C61 butyric acid methyl ester ,  charge transport ,  surface band structure ,  band bending

JST classification (4)： Electronic structure of crystalline semiconductors  (BM02060N) ,  Solar cell  (NC03084O) ,  Microscopy determination of structures  (BK01040E) ,  Crystal structure of organic compounds in general  (BK08001A)

Substance index (1)： 3-Hexylthiophene

Reference (46)：

• C. W. Tang, Appl. Phys. Lett. 48, 183 (1986).
• B. Kippelen and J. L. Breads, Energy Environ. Sci. 2, 251 (2009).
• G. Yu, J. Gao, J. C. Hummelen, F. Wudl, and A. J. Heeger, Science 270, 1789 (1995).
• G. Dennler, M. C. Scharber, and C. J. Brabec, Adv. Mater. 21, 1323 (2009).
• J. Nelson, Mater. Today 14 [10], 462 (2011).

Terms in the title (7)： 走査型 ,  静電容量 ,  力顕微鏡 ,  バルクヘテロ接合 ,  有機太陽電池 ,  ナノスケール ,  研究