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J-GLOBAL ID：201802250283100775   Reference number：18A0644901

Design and test of the interface of the dual-chip integrated digital silicon gyroscope ASIC

2つの統合ディジタルジャイロスコープのASICの設計と試験について,試験を行い,試験を行った。【JST・京大機械翻訳】

Author (5)： Fu Qiang (哈爾浜工業大学 MEMS中心,哈爾浜150001;微系統与微結構教育部重点実験室(哈爾浜工業大学) ,哈爾浜150001) ,  Chen Weiping (哈爾浜工業大学 MEMS中心,哈爾浜150001;微系統与微結構教育部重点実験室(哈爾浜工業大学) ,哈爾浜150001) ,  Yan Jingmin (哈爾浜工業大学 MEMS中心,哈爾浜,150001) ,  Yin Liang (哈爾浜工業大学 MEMS中心,哈爾浜150001;微系統与微結構教育部重点実験室(哈爾浜工業大学) ,哈爾浜150001) ,  Liu Xiaowei (哈爾浜工業大学 MEMS中心,哈爾浜150001;微系統与微結構教育部重点実験室(哈爾浜工業大学) ,哈爾浜150001)
Material： Harbin Gongye Daxue Xuebao  (Journal of Harbin Institute of Technology)
Volume： 49  Issue： 10  Page： 90-94  Publication year： 2017 
JST Material Number： W1450A  ISSN： 0367-6234  CODEN： HPKYAY  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： China (CHN)  Language： CHINESE (ZH)

Abstract/Point： In order to realize the high p...

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Thesaurus term： dynamic range ,  miniaturization ,  analog system ,  bandwidth ,  MEMS ,  angular velocity ,  bias ,  *gyroscope ,  HF ,  modulator ,  1/f noise ,  *ASIC ,  linearity ,  analog circuit
Semi thesaurus term： 低雑音 , 【Automatic Indexing@JST】

Author keywords (5)： digitalized system ,  silicon gyroscope ,  sigma delta ADC ,  ASIC ,  low noise

JST classification (2)： Semiconductor integrated circuit  (NC03162T) ,  Amplification circuits  (NC05040U)

Terms in the title (6)： 統合 ,  ディジタル ,  ジャイロスコープ ,  ASIC ,  設計 ,  試験