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J-GLOBAL ID：201802252189458272   Reference number：18A1183439

Measurement of third-order nonlinear susceptibility tensor in InP using extended Z-scan technique with elliptical polarization

楕円偏光による拡張Zスキャン法を用いたInPにおける3次非線形磁化率テンソルの測定

Author (6)： OISHI Masaki (Chiba Univ., Chiba, JPN) ,  SHINOZAKI Tomohisa (Chiba Univ., Chiba, JPN) ,  HARA Hikaru (Chiba Univ., Chiba, JPN) ,  YAMAMOTO Kazunuki (Chiba Univ., Chiba, JPN) ,  MATSUSUE Toshio (Chiba Univ., Chiba, JPN) ,  BANDO Hiroyuki (Chiba Univ., Chiba, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics  (JJAP)
Volume： 57  Issue： 5  Page： 050306.1-050306.4  Publication year： May. 2018 
JST Material Number： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *elliptically polarized light ,  *optical measurement ,  *indium phosphide ,  *nonlinear susceptibility ,  *magnetic susceptibility ,  *tensor ,  two-photon absorption ,  multiple reflection ,  *Z scan method
Semi thesaurus term： *Z scanning method

JST classification (2)： Measuring techniques and equipments of magnetic materials  (BM06030I) ,  Polarimetry and polarimeters  (BD07050K)

Reference (18)：

• D. C. Hutchings and B. S. Wherrett, Phys. Rev. B 50, 4622 (1994).
• D. C. Hutchings and B. S. Wherrett, Phys. Rev. B 52, 8150 (1995).
• D. C. Hutchings and B. S. Wherrett, Phys. Rev. B 49, 2418 (1994).
• M. Murayama and T. Nakayama, Phys. Rev. B 52, 4986 (1995).
• M. Murayama and T. Nakayama, Phys. Rev. B 55, 9628 (1997).

Terms in the title (7)： 楕円偏光 ,  拡張 ,  Zスキャン法 ,  InP ,  非線形 ,  磁化率 ,  テンソル