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J-GLOBAL ID：201802254776280171   Reference number：18A0415926

先端計測技術と新技術開発 ラマン分光法を用いた高分子成形体の配向マッピングと劣化診断

Author (4)： HIEJIMA YUSUKE (金沢大) ,  KIDA TAKUMITSU (金沢大) ,  IGARASHI TOSHIO (金沢大) ,  NITTA KOHEI (金沢大)
Material： ケミカルエンジニヤリング  (Chemical Engineering (Tokyo))
Volume： 63  Issue： 3  Page： 178-182  Publication year： Mar. 01, 2018 
JST Material Number： F0134A  ISSN： 0387-1037  CODEN： CMNGA  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *Raman spectroscopy ,  *low density polyethylene ,  *molecular orientation ,  *photodegradation ,  steric conformation ,  Raman spectrum ,  thin plate ,  morphology
Semi thesaurus term： conformation ,  polarized Raman spectrum ,  stretching sheet

JST classification (1)： Structure and morphology of polymer solids  (CG02022M)

Terms in the title (8)： 計測技術 ,  開発 ,  ラマン分光法 ,  高分子 ,  成形体 ,  配向 ,  マッピング ,  劣化診断