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J-GLOBAL ID：201802261928897370   Reference number：18A1279379

Time Domain Reflectometry on Pentacene Thin Film Transistor

ペンタセン薄膜トランジスタのタイムドメインリフレクトメトリ

Author (8)： SAKAI MASATOSHI (千葉大) ,  MURAKAMI HIROAKI (千葉大) ,  OKADA YUGO (千葉大) ,  YAMAUCHI HIROSHI (千葉大) ,  KUDO KAZUHIRO (千葉大) ,  SADAMITSU YUICHI (日本化薬) ,  HASHIMOTO YUTA (日本化薬) ,  ONODERA NOZOMI (日本化薬)
Material： 電気学会研究会資料
Issue： EFM-18-037-044.046-048 電子材料研究会  Page： 25-28  Publication year： Jun. 14, 2018 
JST Material Number： Z0924B  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *polymer thin film ,  *thin film transistor ,  *time domain spectroscopy ,  *carrier injection ,  simulation ,  sample preparation ,  *CAD ,  capacitance-voltage characteristic ,  carrier mobility ,  thin film condenser ,  waveform analysis ,  simulator ,  circuit design ,  polyacene
Semi thesaurus term： *TCAD ,  MIS capacitor ,  circuit simulator

JST classification (1)： Transistors  (NC03070N)

Substance index (1)： Pentacene

Terms in the title (2)： ペンタセン ,  薄膜トランジスタ