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J-GLOBAL ID：201802269660892062   Reference number：18A1370400

見える化技術 全表面観察のための広視野レーザ顕微鏡の研究開発

Author (2)： NITTA ISAMI (新潟大 工) ,  TSUKIYAMA YOSUKE (新潟大 工)
Material： 電気評論  (Electrical Review)
Volume： 103  Issue： 7  Page： 8-13  Publication year： Jul. 10, 2018 
JST Material Number： G0720A  ISSN： 0285-5860  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *optical microscope ,  visual field ,  resolving power ,  *shape measurement ,  area ,  surface roughness ,  surface quality ,  Shoes ,  contact ,  gasket ,  coated paper ,  wafer ,  shoe sole ,  real contact area ,  *surface metrology ,  waviness ,  carbon paper
Semi thesaurus term： waviness ,  carbon paper ,  *広視野レーザ顕微鏡

JST classification (1)： Optical microscopes,telescopes  (QF05050R)

Terms in the title (7)： 見える化 ,  全表面 ,  観察 ,  広視野 ,  レーザ顕微鏡 ,  研究 ,  開発