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J-GLOBAL ID：201802277168120372   Reference number：18A0774726

Element Specific Imaging Using Muonic X-rays

ミュー粒子X線を用いた元素特異的イメージング

Author (5)： HILLIER Adrian (Rutherford Appleton Lab., Oxfordshire, GBR) ,  ISHIDA Katsu (RIKEN, Saitama, JPN) ,  SELLER Paul (Rutherford Appleton Lab., Oxfordshire, GBR) ,  VEALE Matthew C. (Rutherford Appleton Lab., Oxfordshire, GBR) ,  WILSON Matthew D. (Rutherford Appleton Lab., Oxfordshire, GBR)
Material： JPS Conference Proceedings (Web)
Volume： 21  Page： 011042 (WEB ONLY)  Publication year： Mar. 01, 2018 
JST Material Number： U1201A  ISSN： 2435-3892  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *muon ,  *X-ray ,  *element ,  *image processing ,  *X-ray image ,  *chemical composition ,  *X-ray fluorescence analysis ,  photon ,  X-ray spectrum ,  Ge semiconductor detector ,  semiconductor detector ,  *distribution ,  *energy distribution ,  *X-ray spectrometry ,  *elemental composition ,  *element distribution
Semi thesaurus term： *imaging ,  *X-ray imaging ,  *X-ray fluorescence analysis ,  *energy spectrum

JST classification (6)： X-ray instruments and techniques  (BA02060D) ,  X-ray spectra  (BH03040J) ,  Exotic atoms and molecules  (BH09010S) ,  Optical information processing  (BD03060T) ,  Physical analysis of elements in inorganic substances  (CC03022H) ,  Other phsical analysis  (CC03014E)

Terms in the title (4)： ミュー粒子 ,  X線 ,  元素 ,  イメージング