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J-GLOBAL ID：201802281656181154   Reference number：18A1253838

Localized electronic structures of graphene oxide studied using scanning tunneling microscopy and spectroscopy

走査型トンネル顕微鏡と分光法を用いて調べた酸化グラフェンの局在電子構造【JST・京大機械翻訳】

Author (5)： Katano Satoshi (Research Institute of Electrical Communication, Tohoku University, 2-1-1 Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, Japan. [e-mail]) ,  Wei Tao ,  Sasajima Takumi ,  Kasama Ryuhei ,  Uehara Yoichi
Material： Physical Chemistry Chemical Physics  (PCCP)
Volume： 20  Issue： 26  Page： 17977-17982  Publication year： 2018 
JST Material Number： A0271C  ISSN： 1463-9076  CODEN： PPCPFQ  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： We have used scanning tunnelin...

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Thesaurus term： reduction (reaction) ,  atomic force microscope ,  *spectroscopy ,  image processing ,  *scanning tunneling microscope ,  *electronic structure ,  electron doping ,  substituent ,  domain structure ,  scanning tunneling spectroscopy ,  imaging ,  self-assembled monolayer ,  nano scale ,  *graphene oxide

JST classification (3)： Bases,metal oxides  (CD01030Z) ,  Microscopy determination of structures  (BK01040E) ,  Thin films of organic compounds  (BK14070L)

Terms in the title (3)： 走査型トンネル顕微鏡 ,  分光法 ,  酸化グラフェン