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J-GLOBAL ID：201802287239954497   Reference number：18A2209745

Chemical State Mapping Using X-ray Microscopes and Non-empirical Analysis of Trigger Sites Using Applied Mathematics

X線顕微鏡による化学状態マッピングと応用数学による材料学的知見無しでの反応サイト特定

Author (5)： KIMURA MASAO (高エネルギー加速器研究機構(KEK)・物質構造科学研究所(IMSS)) ,  TAKEICHI YASUO (高エネルギー加速器研究機構(KEK)・物質構造科学研究所(IMSS)) ,  OBAYASHI IPPEI (理研革新知能統合研究センター) ,  MURAO REIKO (新日鐵住金先端技術研究所) ,  HIRAOKA YASUAKI (京都大学高等研究院)
Material： まてりあ  (Materia Japan)
Volume： 57  Issue： 12  Page： 595(J-STAGE)  Publication year： 2018 
JST Material Number： F0163A  ISSN： 1340-2625  CODEN： MTERE2  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *X-ray microscope ,  synchrotron radiation ,  X-ray absorption spectroscopy ,  *sintered ores ,  iron ,  iron compound ,  valence ,  machine learning ,  reduction(reaction) ,  *crack initiation ,  homology(mathematics) ,  reducibility
Semi thesaurus term： persistent homology ,  degree of reduction ,  Fe(II) ,  iron(III)

Author keywords (3)： X-ray microscopy ,  X-ray absorption ,  persistent homology

JST classification (2)： Heat treatment of ore  (UA07110L) ,  X-ray instruments and techniques  (BA02060D)

Reference (3)：

• (1) M. Kimura, Y. Takeichi, R. Murao, I. Obayashi, Y. Hiraoka and Y. Liu: J. of Phys.: Conference Series, 849(2017), 012015.
• (2) M. Kimura, I. Obayashi, Y. Takeichi, R. Murao and Y. Hiraoka: Sci. Rep., 8(2018), 3553.
• (3) I. Obayashi, Y. Hiraoka and M. Kimura: J. of Applied and Computational Topology, 1(2018), 421.

Terms in the title (5)： X線顕微鏡 ,  化学状態 ,  マッピング ,  応用数学 ,  材料学