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J-GLOBAL ID：201803000385256626

異常検知装置及び異常検知システム

Inventor：
村上 隆夫

About 村上 隆夫


Applicant, Patent owner：
株式会社日立製作所

About 株式会社日立製作所


Agent (2)： 大賀 眞司 ,  百本 宏之
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2014085638
Publication number (International publication number)：2015207818
Patent number：6223897
Application date： Apr. 17, 2014
Publication date： Nov. 19, 2015
Claim (excerpt)：
【請求項1】 状態データの発生元となる複数個の検査対象の中から、当該複数個の検査対象よりも数の少ない、1以上の検査対象を代表点として選択する代表点選択部と、 前記各検査対象と前記代表点との組み合わせから構成される複数のペアを生成し、前記各ペアに属する検査対象から得られた状態データと前記各ペアに属する代表点から得られた状態データ同士の類似度又は距離で定義されるスコアを前記ペア毎に算出するスコア算出部と、 前記スコア算出部の各算出結果を基にメタスコア行列を算出するメタスコア行列算出部と、 前記メタスコア行列算出部の算出によるメタスコア行列の中のいずれかの行ベクトルの値を基に当該行ベクトルに対応する検査対象の異常の有無を判定する異常判定部と、を有し、 前記メタスコア行列算出部は、 前記スコア算出部の各算出結果から、前記各ペアのスコアを要素に含むスコア行列を生成し、当該生成したスコア行列に属する複数の行ベクトルであって、前記各検査対象の特徴量を示す複数のスコアベクトル同士の類似度又は距離で定義されるメタスコアを前記スコアベクトル毎に算出し、当該各算出結果から、前記各スコアベクトルのメタスコアを要素に含むメタスコア行列を算出してなることを特徴とする異常検知装置。
IPC (6)：
H04M 3/00 ( 200 6.01) ,  H04M 11/00 ( 200 6.01) ,  H04M 3/36 ( 200 6.01) ,  H04Q 9/00 ( 200 6.01) ,  G06F 13/00 ( 200 6.01) ,  H04L 12/70 ( 201 3.01)
FI (6)：
H04M 3/00 E ,  H04M 11/00 301 ,  H04M 3/36 C ,  H04Q 9/00 311 W ,  G06F 13/00 351 N ,  H04L 12/70 100 Z
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
  • 特許第4677569号
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    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2011-041268   Applicant：株式会社日立製作所

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