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J-GLOBAL ID:201803000541758491

対象物質の分析方法及び分析装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 棚井 澄雄 ,  西澤 和純 ,  飯田 雅人 ,  春田 洋孝
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2016075872
Publication number (International publication number):2017187369
Patent number:6315430
Application date: Apr. 05, 2016
Publication date: Oct. 12, 2017
Claim (excerpt):
【請求項1】 バイパス流路を有する流路に試料を導入し、前記バイパス流路に導入された試料を測定装置に導入して試料中の対象物質及び/又は担体の信号強度又は濃度を測定する工程(a)と、 前記バイパス流路に導入されなかった試料をカラムに導入して対象物質及び/又は担体を吸着する工程(b)と、 前記カラムに溶出液を導入し、前記カラムに吸着した対象物質及び/又は担体を溶出して前記測定装置に導入し、溶出された対象物質及び/又は担体の信号強度又は濃度を測定する工程(c)と、 を備える、対象物質の分析方法。
IPC (4):
G01N 30/86 ( 200 6.01) ,  G01N 30/02 ( 200 6.01) ,  G01N 30/26 ( 200 6.01) ,  G01N 30/88 ( 200 6.01)
FI (4):
G01N 30/86 J ,  G01N 30/02 Z ,  G01N 30/26 Z ,  G01N 30/88 H
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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