遅延時間の計測方法および遅延時間計測装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：亀井岳行
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2014120117
Publication number (International publication number)：2015232531
Patent number：6309358
Application date： Jun. 11, 2014
Publication date： Dec. 24, 2015
Claim (excerpt)：

【請求項1】入力されたデータに基づいてデータ処理を行う組合せ回路と、前記組合せ回路の入力側に接続され、一定の周期信号として入力されるクロック信号に基づいてデータの取込みとその保持が可能な第1のフリップフロップであって、前記組合せ回路における遅延時間の測定を行う場合に、予め設定されたテスト用の信号が入力される前記第1のフリップフロップと、前記組合せ回路の出力側に接続され、且つ、前記組合せ回路から出力された信号を遅延させる遅延部であって、前記遅延部における信号の遅延量を制御可能な前記遅延部と、前記遅延部の出力側に接続され、前記クロック信号に基づいてデータの取込みと保持が可能な第2のフリップフロップであって、前記組合せ回路における遅延時間の測定を行う場合に、前記遅延部を通過したテスト用の信号が出力される前記第2のフリップフロップと、前記第2のフリップフロップから出力された信号が、予め設定された期待値でなくなった場合の前記遅延時間に基づいて、前記組合せ回路の遅延時間を測定する測定手段と、を備えたことを特徴とする遅延時間計測装置。

IPC (1)：

G01R 31/28 ( 200 6.01)

FI (2)：

G01R 31/28 V , G01R 31/28 H

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

集積回路
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-126837 Applicant：日本電気株式会社
クリティカル・パス評価方法及び遅延状態計測回路、並びにLSI製造方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-020170 Applicant：ソニー株式会社
特開平4-242180

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Article cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

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