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J-GLOBAL ID：201803004343239638

荷電粒子放射線計測方法および荷電粒子放射線計測装置

Inventor： 加田 渉 ,  三浦 健太 ,  花泉 修 ,  神谷 富裕 ,  佐藤 隆博 ,  須崎 純一 ,  山田 鈴弥
Applicant, Patent owner： 国立大学法人群馬大学 ,  国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 ,  デンカ株式会社
Agent (1)： 園田・小林特許業務法人
Gazette classification：再公表公報
Application number (International application number)：JP2016074813
Publication number (International publication number)：WO2017038622
Application date： Aug. 25, 2016
Publication date： Mar. 09, 2017
Summary：

【課題】耐熱性及び放射線照射耐性の高い放射線計測機器を提供する。【解決手段】SiAlON蛍光体を主成分とする蛍光体を含むシンチレータを用いる荷電粒子放射線計測方法および荷電粒子放射線計測装置を提供する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

SiAlON蛍光体を主成分とする蛍光体を含むシンチレータを用いる荷電粒子放射線計測方法。

IPC (4)：

G01T 1/20 ,  G01T 1/202 ,  C09K 11/00 ,  C09K 11/64

FI (5)：

G01T1/20 B ,  G01T1/20 C ,  G01T1/202 ,  C09K11/00 E ,  C09K11/64

F-Term (31)：

2G188AA01 ,  2G188AA19 ,  2G188BB06 ,  2G188BB15 ,  2G188CC09 ,  2G188CC12 ,  2G188CC21 ,  2G188CC22 ,  2G188CC23 ,  2G188DD04 ,  2G188DD05 ,  2G188DD44 ,  2G188EE01 ,  4H001CA04 ,  4H001XA03 ,  4H001XA07 ,  4H001XA08 ,  4H001XA12 ,  4H001XA13 ,  4H001XA14 ,  4H001XA20 ,  4H001XA39 ,  4H001XB32 ,  4H001YA58 ,  4H001YA59 ,  4H001YA62 ,  4H001YA63 ,  4H001YA65 ,  4H001YA66 ,  4H001YA68 ,  4H001YA70