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J-GLOBAL ID:201803004677560666

単結晶、放射線検出器及び放射線検出器の使用方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 長谷川 芳樹 ,  清水 義憲 ,  古下 智也
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2014029357
Publication number (International publication number):2015151535
Patent number:6303146
Application date: Feb. 19, 2014
Publication date: Aug. 24, 2015
Claim (excerpt):
【請求項1】 下記一般式(1)で表され、厚みが10mmのときの、波長400nmの光に対する厚み方向の透過率が50%以上である、単結晶。 (A1-xBx)2Si2O7 (1) [式(1)中、AはY、La及びGdからなる群より選択される少なくとも1種であり、BはY、La及びGdを除く希土類元素からなる群より選択される少なくとも1種であり、xは0.005 IPC (5):
C09K 11/79 ( 200 6.01) ,  C09K 11/00 ( 200 6.01) ,  G01T 1/20 ( 200 6.01) ,  G01T 1/202 ( 200 6.01) ,  C30B 29/22 ( 200 6.01)
FI (5):
C09K 11/79 ,  C09K 11/00 E ,  G01T 1/20 B ,  G01T 1/202 ,  C30B 29/22 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (7)
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Cited by examiner (7)
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Article cited by the Patent:
Cited by applicant (2) Cited by examiner (3)

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