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J-GLOBAL ID：201803005153647779

製造設備の異常診断装置

Inventor： 手塚 知幸 ,  篠永 裕之 ,  亀山 渉 ,  菅沼 睦 ,  永島 元貴
Applicant, Patent owner： 東芝三菱電機産業システム株式会社
Agent (2)： 高田 守 ,  高橋 英樹
Gazette classification：再公表公報
Application number (International application number)：JP2016055589
Publication number (International publication number)：WO2017145318
Application date： Feb. 25, 2016
Publication date： Aug. 31, 2017
Summary：

製造設備の状態に関係なく製造設備の異常診断を行うことができる製造設備の異常診断装置を提供する。製造設備の異常診断装置は、製造設備の操業状態を捉えた特徴量の情報を記憶した特徴量記憶部と、前記製造設備の運転データまたは前記製造設備に設けられた測定装置の測定データを少なくとも含むデータを変換するデータ変換部と、前記データ変換部で変換されたデータを前記特徴量記憶部に記憶された特徴量の情報に基づいて分析する特徴量分析部と、前記特徴量記憶部に記憶された特徴量の情報と前記特徴量分析部により分析された結果の情報とに基づいてデータを復元するデータ復元部と、前記特徴量分析部により分析される際に用いたデータと前記データ復元部により復元されたデータとに基づいて異常度を演算する異常度演算部と、前記異常度演算部により演算された異常度に基づいて異常診断を行う異常診断部と、を備えた。

Claim (excerpt)：

製造設備の操業状態を捉えた特徴量の情報を記憶した特徴量記憶部と、 前記製造設備の運転データまたは前記製造設備に設けられた測定装置の測定データを含むデータを変換するデータ変換部と、 前記データ変換部で変換されたデータを前記特徴量記憶部に記憶された特徴量の情報に基づいて分析する特徴量分析部と、 前記特徴量記憶部に記憶された特徴量の情報と前記特徴量分析部により分析された結果の情報とに基づいてデータを復元するデータ復元部と、 前記特徴量分析部により分析される際に用いられたデータと前記データ復元部により復元されたデータとに基づいて異常度を演算する異常度演算部と、 前記異常度演算部により演算された異常度に基づいて異常診断を行う異常診断部と、 を備えた製造設備の異常診断装置。

IPC (2)：

G05B 19/418 ,  G05B 23/02

FI (2)：

G05B19/418 Z ,  G05B23/02 T

F-Term (16)：

3C100AA57 ,  3C100AA62 ,  3C100BB13 ,  3C100EE10 ,  3C223AA05 ,  3C223AA11 ,  3C223BA01 ,  3C223CC01 ,  3C223DD01 ,  3C223EB02 ,  3C223FF03 ,  3C223FF04 ,  3C223FF24 ,  3C223FF33 ,  3C223FF35 ,  3C223GG01