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J-GLOBAL ID：201803005235453921

円二色性スペクトル及び円偏光蛍光を同一の光学系で測定する方法及び装置

Inventor： 原田 拓典
Applicant, Patent owner： 日本分光株式会社
Agent (3)： 浜野 孝雄 ,  八木田 智 ,  稲垣 謙司
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2013240734
Publication number (International publication number)：2015102333
Patent number：6268430
Application date： Nov. 21, 2013
Publication date： Jun. 04, 2015
Claim (excerpt)：

【請求項1】 光源から出射した光を、サンプルに照射し、サンプルから出力された光の円二色性スペクトル及び円偏光蛍光を測定する方法であって、 光源とサンプルとの間に励起モノクロメータを配置し、 サンプルと検出器との間にPEM及びCD兼用発光側モノクロメータを配置して成る光学系を使用し、 前記励起モノクロメータを、 円偏光蛍光を測定する場合は光源から出射した光を単色光とする分光器として機能させ、 円二色性スペクトルを測定する場合には分光器として機能せずに0次光を出射するよう機能させる ことにより、 同じ光学系を用いて円二色性スペクトル及び円偏光蛍光を測定する ことを特徴とする測定方法。

IPC (2)：

G01N 21/19 ( 200 6.01) ,  G01N 21/64 ( 200 6.01)

FI (2)：

G01N 21/19 ,  G01N 21/64 A