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J-GLOBAL ID：201803012838656920

LA-ICP-MS装置を用いた定量分析方法およびLA-ICP-MS装置

Inventor： 林 英男 ,  川口 雅弘 ,  渡邊 禎之
Applicant, Patent owner： 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
Agent (1)： 特許業務法人筒井国際特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2017030413
Publication number (International publication number)：2018136190
Application date： Feb. 21, 2017
Publication date： Aug. 30, 2018
Summary：

【課題】固体標準試料を用いることなく、定量分析を可能とする、LA-ICP-MS装置を用いた定量分析方法を提供する。【解決手段】本発明の定量分析方法は、LA部2、またはETV部1によって生じた試料の微粉体をイオン化して質量分析を行うICP-MS部3を備えるLA-ICP-MS装置を用いる。そして、分析対象の固体試料9にレーザーアブレーションを行うことによって生じた試料の微粒子をICP-MS部3へ導入し、固体試料9の検出元素イオンの第1信号強度を測定する工程と、固体試料9に含まれた元素を既知量含む標準液体試料49を加熱気化することによって生じた試料の微粒子をICP-MS部3へ導入し、標準液体試料49から得られた上記検出元素の検出元素イオンの第2信号強度を測定する工程と、第1信号強度と、第2信号強度とに基づいて固体試料9中の上記検出元素の含有量を求める工程と、を有する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

(a)内部に第1試料が配置される第1試料室を有し前記第1試料にレーザーアブレーションを行うLA部と、 内部に第2試料が配置される第2試料室を有し前記第2試料の気化を行うETV部と、 前記LA部および前記ETV部と接続され、前記LA部または前記ETV部で処理された前記第1試料または前記第2試料をイオン化して質量分析を行うICP-MS部と、を有するLA-ICP-MS装置を用意する工程、 (b)分析対象の固体試料である前記第1試料を前記第1試料室に配置し、前記第1試料にレーザーアブレーション処理を施し、処理された前記第1試料を前記ICP-MS部に導入し、前記第1試料から得られた検出元素イオンの第1信号強度を測定する工程、 (c)前記第1試料に含まれた前記検出元素を既知の濃度含む標準液体試料である前記第2試料を前記第2試料室に配置し、前記第2試料に加熱気化処理を施し、処理された前記第2試料を前記ICP-MS部に導入し、前記第2試料から得られた前記検出元素イオンの第2信号強度を測定する工程、 (d)前記第1信号強度と、前記第2信号強度と、前記既知の濃度とに基づいて前記第1試料中の前記検出元素の含有量を求める工程、 を含むLA-ICP-MS装置を用いた定量分析方法。

IPC (2)：

G01N 27/62 ,  G01N 27/64

FI (3)：

G01N27/62 F ,  G01N27/62 G ,  G01N27/64 B

F-Term (9)：

2G041CA01 ,  2G041DA14 ,  2G041EA01 ,  2G041EA03 ,  2G041EA12 ,  2G041FA16 ,  2G041GA14 ,  2G041JA01 ,  2G041LA08