Pat
J-GLOBAL ID：201803016304812132
運動計測装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：
福田 充広
, 吉田 裕美
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2016226495
Publication number (International publication number)：2018084447
Application date： Nov. 22, 2016
Publication date： May. 31, 2018
Summary：
【課題】安価かつ小型にすることが容易であり、対象に対するダメージを低減できる簡易なX線源その他の量子線源を用いながらも対象の運動等を確実に評価できる運動計測装置を提供する。【解決手段】運動計測装置100は、対象に付した標識に対して量子ビームを照射するビーム照射部20と、標識からの量子ビームを検出するセンサー40と、センサー40に設定した所定の検出窓における信号を抽出する信号抽出部61と、所定の検出窓による信号の検出強度の経時的な変化に基づいて指標値を決定し、決定した指標値に基づいて標識の運動状態を評価する信号処理部62とを備える。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
対象に付した標識に対して量子ビームを照射するビーム照射部と、
前記標識からの量子ビームを検出するセンサーと、
前記センサーに設定した所定の検出窓における信号を抽出する信号抽出部と、
前記所定の検出窓による信号の検出強度の経時的な変化に基づいて指標値を決定し、決定した指標値に基づいて前記標識の運動状態を評価する信号処理部と
を備える運動計測装置。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (7)：
2G001AA01
, 2G001BA18
, 2G001CA01
, 2G001DA09
, 2G001HA07
, 2G001KA12
, 2G001LA02
Cited by examiner (2)
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粒子軌跡検出方法及び装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2013-240721
Applicant：株式会社IHI
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ラウエ斑点追跡法
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平9-136430
Applicant：株式会社日立製作所
Article cited by the Patent：
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