Pat
J-GLOBAL ID:201803017163687734
照射装置、レーザ顕微鏡システム、照射方法及びレーザ顕微鏡の検出方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (5):
吉田 正義
, 今枝 弘充
, 梅村 裕明
, 堀切 康平
, 吉田 安子
Gazette classification:再公表公報
Application number (International application number):JP2017004801
Publication number (International publication number):WO2017138619
Application date: Feb. 09, 2017
Publication date: Aug. 17, 2017
Summary:
多重化信号としての検出光の帯域幅をより広くすることができる照射装置、レーザ顕微鏡システム、照射方法及びレーザ顕微鏡の検出方法を提供する。レーザ光を分離して第1AOD(24)、第2AOD(34)にそれぞれ入射することによって偏向角と周波数シフトの大きさが互いに異なる複数の第1回折光及び第2回折光を生成する。ビームスプリッタ(19)で第1回折光と第2回折光とを重ね合わせて、互いにビート周波数が異なる複数の干渉光を生成する。対物レンズ(52)は、主走査方向に複数の干渉光の照射スポットをライン状に並べて形成し、試料(T)に干渉光を照射する。走査ミラー(47a)の揺動で照射スポットを主走査方向と直交する副走査方向に移動する。各干渉光の照射で試料(T)から放出される蛍光を光検出部(13)で検出する。
Claim (excerpt):
互いに異なる周波数の複数の第1の光と互いに異なる周波数の複数の第2の光とを、前記第1の光と前記第2の光との周波数の差が異なる組み合わせで干渉させることよって、ビート周波数の異なる複数の干渉光を生成する干渉光生成部と、
複数の前記干渉光を照射する干渉光照射部と
を備えることを特徴とする照射装置。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (72):
2G043AA03
, 2G043CA04
, 2G043CA05
, 2G043EA01
, 2G043EA14
, 2G043FA01
, 2G043FA02
, 2G043FA06
, 2G043GA02
, 2G043GB01
, 2G043GB21
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043HA06
, 2G043HA07
, 2G043HA09
, 2G043JA02
, 2G043JA03
, 2G043KA02
, 2G043KA05
, 2G043KA07
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, 2G043LA01
, 2G043LA02
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, 2G043NA04
, 2G043NA05
, 2G059AA01
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, 2G059FF10
, 2G059GG01
, 2G059GG04
, 2G059GG06
, 2G059HH02
, 2G059HH06
, 2G059JJ02
, 2G059JJ03
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, 2G059JJ11
, 2G059JJ12
, 2G059JJ13
, 2G059JJ15
, 2G059JJ18
, 2G059JJ20
, 2G059JJ22
, 2G059KK01
, 2G059KK02
, 2G059LL01
, 2G059LL04
, 2G059MM01
, 2G059MM07
, 2G059MM09
, 2G059NN01
, 2H052AA07
, 2H052AA09
, 2H052AC04
, 2H052AC15
, 2H052AC34
, 2H052AD06
, 2H052AD16
, 2H052AF14
, 2H052AF21
, 2H052AF25
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