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J-GLOBAL ID：201803019641721490

流通分析装置および流通分析方法

Inventor： 小林 修 ,  高杉 憲司
Applicant, Patent owner： 国立大学法人 東京大学 ,  日本電子株式会社
Agent (2)： 布施 行夫 ,  大渕 美千栄
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2014108869
Publication number (International publication number)：2015224914
Patent number：6249169
Application date： May. 27, 2014
Publication date： Dec. 14, 2015
Claim (excerpt)：

【請求項1】 流通容器と、 前記流通容器に導入流体を導入する流体導入部と、 前記流体導入部から前記流通容器に導入される前記導入流体の流速または流圧を周期的に変化させる制御を行う流体制御部と、 前記流通容器から排出される排出流体の成分を分析する排出流体分析部と、 前記導入流体の制御情報および前記排出流体の分析結果から得られる前記排出流体の成分比と時間との関係を表す排出プロファイルを周波数解析する周波数解析部と、 を含み、 前記流体導入部は、複数設けられ、 複数の前記流体導入部から導入された複数種の前記導入流体は、前記流通容器において反応する、流通分析装置。

IPC (2)：

G01N 24/08 ( 200 6.01) ,  G01R 33/30 ( 200 6.01)

FI (2)：

G01N 24/08 510 P ,  G01N 24/02 510 D

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 測定方法及び表面プラズモン増強蛍光測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2013-223100   Applicant：コニカミノルタ株式会社
• 質量分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2012-126926   Applicant：株式会社日立ハイテクノロジーズ
• 多岐管
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-301906   Applicant：モンサントカンパニー