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J-GLOBAL ID：201803020434576390

分光分析装置

Inventor：
清水 久史

About 清水 久史

, 
馬渡 和真

About 馬渡 和真

, 
北森 武彦

About 北森 武彦


Applicant, Patent owner：
国立大学法人 東京大学

About 国立大学法人 東京大学


Agent (1)： 成瀬 重雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2016205655
Publication number (International publication number)：2018066664
Application date： Oct. 20, 2016
Publication date： Apr. 26, 2018
Summary：
【課題】微小体積の試料に対する分光分析を高感度で行うことが可能な分析装置を提供する。【解決手段】光導波路1の第1分岐部11と第2分岐部12とは、プローブ光源4から光導波路1に送り込まれたプローブ光を分離させ、かつ、その後に混合させる。第1分岐部11及び第2分岐部12のうちの少なくとも一方は、流路2との交差部7において、流路2の内部を横断している。励起光源3は、交差部7に励起光を照射する。受光部5は、第1及び第2分岐部11及び12を通過後に混合されたプローブ光を受光してその光強度を測定する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
光導波路と、流路と、励起光源と、プローブ光源と、受光部を備えており、 前記光導波路は、第1分岐部と第2分岐部とを備えており、 前記第1分岐部と第2分岐部とは、前記プローブ光源から前記光導波路に送り込まれたプローブ光を分離させ、かつ、その後に混合させる構成となっており、 前記第1分岐部及び前記第2分岐部のうちの少なくとも一方は、前記流路との交差部において、前記流路の内部を横断しており、 前記励起光源は、前記交差部に励起光を照射する構成となっており、 前記受光部は、前記第1及び第2分岐部を通過後に混合された前記プローブ光を受光してその光強度を測定する構成となっている 分光分析装置。
IPC (4)：
G01N 21/45 ,  G01N 21/41 ,  G01N 21/05 ,  G01N 37/00
FI (4)：
G01N21/45 A ,  G01N21/41 Z ,  G01N21/05 ,  G01N37/00 101
F-Term (26)：
2G057AA07 ,  2G057AC01 ,  2G057BA05 ,  2G057BB01 ,  2G057BD04 ,  2G057BD06 ,  2G059AA02 ,  2G059BB01 ,  2G059BB04 ,  2G059DD12 ,  2G059EE05 ,  2G059EE09 ,  2G059EE12 ,  2G059FF03 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG03 ,  2G059GG04 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ06 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK01 ,  2G059MM17 ,  2G059NN02
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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