Art

J-GLOBAL ID：201902110332353976   Reference number：19S2859757

Improving program/erase endurance by controlling the inter-poly process in flash memory

Author (10)： Ushiyama, Masahiro (Hitachi Ltd) ,  Miura, Hideo (Hitachi Ltd) ,  Yashima, Hideyuki (Hitachi Ltd) ,  Adachi, Tetsuo (Hitachi Ltd) ,  Nishimoto, Toshiaki (Hitachi Ltd) ,  Komori, Kazuhiro (Hitachi Ltd) ,  Kamigaki, Yoshiaki (Hitachi Ltd) ,  Kato, Masataka (Hitachi Ltd) ,  Kume, Hitoshi (Hitachi Ltd) ,  Ohji, Yuzuru (Hitachi Ltd)
Material： Annual Proceedings - Reliability Physics (Symposium)
Page： 18-23  Publication year： 1995 
JST Material Number： SCOPUS  ISSN： 0099-9512  CODEN： ARLPB 

Terms in the title (1)： FLASH