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J-GLOBAL ID：201902200515197182   Reference number：19S2160208

Block-basis on-line BIST architecture for embedded SRAM using wordline and bitcell voltage optimal control

Author (6)： Yoshikawa, Masahiro (Kobe University) ,  Okumura, Shunsuke ,  Nakata, Yohei ,  Kagiyama, Yuki ,  Kawaguchi, Hiroshi ,  Yoshimoto, Masahiko
Material： Proceedings of the 12th International Symposium on Quality Electronic Design, ISQED 2011
Page： 322-325  Publication year： 2011 
JST Material Number： SCOPUS  ISBN： 9781612849140 
Country of issue： United States (USA)  Language： English (EN)

Terms in the title (2)： BIST ,  SRAM