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J-GLOBAL ID：201902212982205251   Reference number：19S0047251

Application of X-ray photoelectron spectroscopy to characterization of Au nanoparticles formed by ion implantation into SiO2

Author (10)： Takahiro, K. (Kyoto Institute of Technology, Matsugasaki) ,  Oizumi, S. (Kyoto Institute of Technology, Matsugasaki) ,  Morimoto, K. (Kyoto Institute of Technology, Matsugasaki) ,  Kawatsura, K. (Kyoto Institute of Technology, Matsugasaki) ,  Isshiki, T. (Kyoto Institute of Technology, Matsugasaki) ,  Nishio, K. (Kyoto Institute of Technology, Matsugasaki) ,  Nagata, S. (IMR, Tohoku University) ,  Yamamoto, S. (Japan Atomic Energy Agency) ,  Narumi, K. (Japan Atomic Energy Agency) ,  Naramoto, H. (Japan Atomic Energy Agency)
Material： Applied Surface Science
Volume： 256  Issue： 4  Page： 1061-1064  Publication year： 2009 
JST Material Number： SCOPUS  ISSN： 0169-4332  CODEN： ASUSE 
Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： English (EN)

Terms in the title (2)： Au ,  SiO2