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J-GLOBAL ID：201902214407046163   Reference number：19A1200033

Automatic defect localization and characterization through machine learning based inversion for guided wave imaging in SHM

SHMにおける誘導波イメージングのための機械学習ベース反転による自動欠陥位置決めと特性化【JST・京大機械翻訳】

Author (4)： Miorelli Roberto (NDE department CEA LIST, Saclay, France) ,  Kulakovskyi Andrii (NDE department CEA LIST, Saclay, France) ,  Mesnil Olivier (NDE department CEA LIST, Saclay, France) ,  d'Almeida Oscar (Safran Tech, Magny-Les-Hameaux, France)
Material： AIP Conference Proceedings  (AIP Conf Proc)
Volume： 2102  Issue： 1  Page： 050005-050005-8  Publication year： 2019 
JST Material Number： D0071C  ISSN： 0094-243X  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： Guided Wave (GW) based Structu...

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Thesaurus term： sensor ,  simulation model ,  *image processing ,  *characterization ,  image ,  algorithm ,  parameter ,  *machine learning ,  phase(topology) ,  *positioning
Semi thesaurus term： サポートベクトル回帰 ,  リッジ回帰 ,  逆モデル ,  局在化 ,  健康 , 【Automatic Indexing@JST】

JST classification (2)： Nondestructive testing  (HB02030F) ,  Molding of reinforced plastics  (YH04060J)

Terms in the title (6)： 誘導波 ,  イメージング ,  機械学習 ,  反転 ,  欠陥 ,  特性化