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J-GLOBAL ID:201902218980407551   Reference number:19A2459143

Circuit Measurement and Material at Millimeter-Wave Frequency Measurement Solution for 5G and Measurement Research for 6G

ミリ波帯高周波回路・材料計測技術~第5世代無線通信向け計測ソリューションと第6世代無線通信に向けた取り組み~
Author (3):
Material:
Volume: 22  Issue:Page: 514-519(J-STAGE)  Publication year: 2019 
JST Material Number: S0579C  ISSN: 1343-9677  Document type: Article
Article type: 原著論文  Country of issue: Japan (JPN)  Language: JAPANESE (JA)
Thesaurus term:
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JST classification (1):
JST classification
Category name(code) classified by JST.
Measurement,testing and reliability of solid-state devices 
Reference (6):
  • 1) "It's Never Too Early to Think About 6G Companies have barely begun deploying 5G networks, but that just means researchers are thinking about what comes next," IEEE Spectrum 22 May 2018
  • 2) (国研)産業技術総合研究所プレスリリース:“窒化ガリウム/シリコンハイブリッド整流回路の動作を実証-宇宙機内でのセンサーネットワークの無線給電を可能に-,”2018年11月6日
  • 3) (国研)産業技術総合研究所プレスリリース:“超高精度平面回路計測技術により300 GHz帯で印刷配線の性能を評価-未開拓周波数領域を利用した通信やセンサーの利用を加速-,”2019年5月17日
  • 4) (国研)産業技術総合研究所プレスリリース:“ミリ波帯高速無線通信の拡大を牽引する材料計測技術を開発-170 GHzまでの超広帯域で高精度な誘電率測定を実現-,”2019年1月17日
  • 5) IEC TC46 website: https://www.iec.ch/dyn/www/f?p=103:7:29008277615110::::FSP_ORG_ID:1247
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