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J-GLOBAL ID：201902227285546092   Reference number：19A0293440

JFCC・ファインセラミックスの製造から試験評価までの最先端技術 電子顕微鏡による材料の微細構造解析技術-走査型電子顕微鏡(SEM)の最前線-

Author (3)： YOKOE DAISAKU (ファインセラミックスセ ナノ構造研) ,  YOSHIDA RYUJI (ファインセラミックスセ ナノ構造研) ,  KATO TAKEHARU (ファインセラミックスセ ナノ構造研)
Material： 金属  (Materials Science & Technology)
Volume： 89  Issue： 2  Page： 161-164  Publication year： Feb. 01, 2019 
JST Material Number： F0157A  ISSN： 0368-6337  CODEN： KNZKA  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *ceramics ,  *electron microscope ,  micro structure ,  *structure analysis ,  sample preparation ,  scanning electron microscope ,  electron diffraction ,  crystal orientation ,  focused ion beam ,  electron microscopy ,  FIB-SEM
Semi thesaurus term： EBSD ,  conformational analysis

JST classification (2)： Properties of ceramics and ceramic whiteware  (YC03030G) ,  Structure determination and diffraction crystallography in general  (BK01010X)

Terms in the title (9)： ファインセラミックス ,  試験 ,  評価 ,  最先端技術 ,  電子顕微鏡 ,  微細構造 ,  解析 ,  走査型電子顕微鏡 ,  SEM