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J-GLOBAL ID：201902231741765833   Reference number：19A1647678

Terahertz spectroscopic characterization of Ge₂Sb₂Te₅ phase change materials for photonics applications

フォトニクス応用のためのGe_2Sb_2Te_5相変化材料のテラヘルツ分光特性評価【JST・京大機械翻訳】

Author (8)： Makino Kotaro (Nanoelectronics Research Institute, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba Central 5, 1-1-1 Higashi, Tsukuba 305-8565, Japan. [e-mail]) ,  Kato Kosaku ,  Saito Yuta ,  Fons Paul ,  Kolobov Alexander V. ,  Tominaga Junji ,  Nakano Takashi ,  Nakajima Makoto
Material： Journal of Materials Chemistry C. Materials for Optical, Magnetic and Electronic Devices  (Journal of Materials Chemistry C. Materials for Optical and Electronic Devices)
Volume： 7  Issue： 27  Page： 8209-8215  Publication year： 2019 
JST Material Number： W2383A  ISSN： 2050-7526  CODEN： JMCCCX  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： Ge-Sb-Te (GST) phase change ma...

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Thesaurus term： nonvolatility ,  phase shift ,  *phase transition ,  thin film ,  insulator ,  refractive index ,  contrast ,  dielectric function ,  *characterization ,  annealing (heat treatment) ,  *terahertz wave ,  transmissivity ,  cubic system ,  dielectric property ,  *photonics

JST classification (2)： Optical devices in general  (BD06010L) ,  Optical properties of condensed matter in general  (BM08010A)

Terms in the title (5)： フォトニクス ,  応用 ,  相変化材料 ,  テラヘルツ分光 ,  特性評価