Art

J-GLOBAL ID：201902232930526018   Reference number：19A1063435

Modeling of diamond field emitter arrays for a compact source of high brightness electron beams

高輝度電子ビームのコンパクトソースのためのダイヤモンド電界エミッタアレイのモデリング【JST・京大機械翻訳】

Author (9)： Huang C.-K. (Los Alamos National Laboratory, Los Alamos, New Mexico 87545, USA) ,  Andrews H. L. (Los Alamos National Laboratory, Los Alamos, New Mexico 87545, USA) ,  Baker R. C. (Los Alamos National Laboratory, Los Alamos, New Mexico 87545, USA) ,  Fleming R. L. (Los Alamos National Laboratory, Los Alamos, New Mexico 87545, USA) ,  Kim D. (Los Alamos National Laboratory, Los Alamos, New Mexico 87545, USA) ,  Kwan T. J. T. (Los Alamos National Laboratory, Los Alamos, New Mexico 87545, USA) ,  Piryatinski A. (Los Alamos National Laboratory, Los Alamos, New Mexico 87545, USA) ,  Pavlenko V. (Los Alamos National Laboratory, Los Alamos, New Mexico 87545, USA) ,  Simakov E. I. (Los Alamos National Laboratory, Los Alamos, New Mexico 87545, USA)
Material： Journal of Applied Physics  (Journal of General Physics and its Application to Other Sciences and to Industry)
Volume： 125  Issue： 16  Page： 164501-164501-14  Publication year： 2019 
JST Material Number： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： Many applications, such as com...

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Thesaurus term： electron microscope ,  first principle ,  Monte Carlo Method ,  *electric field ,  semiconductor ,  pyramid ,  *Diamond ,  *electron beam ,  *modeling ,  external magnetic field ,  semiconductor process ,  electron emission ,  tunnel effect ,  charge transport ,  emission characteristic ,  *ore ,  *precious stone

JST classification (2)： Electron and ion sources  (BD02020U) ,  Thermoionic emission and field emission  (BM09020S)

Terms in the title (7)： 高輝度 ,  電子ビーム ,  コンパクト ,  ソース ,  ダイヤモンド ,  電界エミッタアレイ ,  モデリング