Art

J-GLOBAL ID：201902239261511339   Reference number：19A2179743

Ultra-Fast (13ns) Low Frequency/Microwave Transient Measurements, Application to GaN Transistors Characterization of Pulse to Pulse Stability

超高速(13ns)低周波/マイクロ波過渡測定,パルス安定性へのパルスのGaNトランジスタ特性評価への応用【JST・京大機械翻訳】

Author (3)： Ben-Sassi M. (XLIM, Univ. Limoges, Limoges, France) ,  Neveux G. (XLIM, Univ. Limoges, Limoges, France) ,  Barataud D. (XLIM, Univ. Limoges, Limoges, France)
Material： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conf Proc)
Volume： 2019  Issue： IMS  Page： 1383-1386  Publication year： 2019 
JST Material Number： W2441A  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： This paper describes an on-waf...

Register(free) or Log In to access     To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=19A2179743&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=W2441A") }}

Thesaurus term： envelope(mathematics) ,  electric current ,  *gallium nitride ,  *transistor ,  voltage ,  *pulse ,  interleaving ,  power transistor ,  excitation(physics) ,  *microwave ,  coherence ,  *characterization ,  simulator ,  *LF
Semi thesaurus term： *超高速 , 【Automatic Indexing@JST】

JST classification (2)： Power converters  (NB08030B) ,  Graphic and image processing in general  (JE04010I)

Terms in the title (8)： 低周波 ,  マイクロ波 ,  パルス ,  安定性 ,  GaN ,  トランジスタ ,  特性評価 ,  応用