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J-GLOBAL ID：201902247466777880   Reference number：19A2157485

最先端電子顕微鏡技術を用いた機能性デバイスのオペランド観察

Author (4)： YAMAMOTO KAZUO (ファインセラミックスセ ナノ構造研) ,  ANADA SATOSHI (ファインセラミックスセ ナノ構造研) ,  NOMURA YUKI (パナソニック テクノロジーイノベーション本部) ,  NOMURA YUKI (名古屋大)
Material： クリーンテクノロジー  (Clean Technology)
Volume： 29  Issue： 9  Page： 31-35  Publication year： Sep. 10, 2019 
JST Material Number： L1138A  ISSN： 0917-1819  CODEN： KTEKER  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *in situ observation ,  *scanning transmisson electron microscope ,  Holography ,  electron energy loss spectroscopy ,  *gallium arsenide ,  compound semiconductor ,  *transistor ,  *PN junction ,  electric potential distribution ,  distribution ,  density distribution ,  *lithium secondary battery ,  cathode ,  concentration distribution ,  Lithium ,  charge (battery) ,  electric discharge ,  solid electrolyte ,  cobaltate ,  lithium compound ,  resistance ,  charge-discharge ,  charge density distribution ,  electron beam holography ,  electrode interface resistance ,  distribution of electric field
Semi thesaurus term： *オペランド観察 ,  interface resistance ,  cathode ,  electric field distribution

JST classification (2)： Transistors  (NC03070N) ,  Secondary batteries  (YB04030K)

Terms in the title (5)： 最先端 ,  電子顕微鏡 ,  機能性 ,  オペランド ,  観察