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J-GLOBAL ID：201902248084699437   Reference number：19A0803244

Checking the quality of approximation of p-values in statistical tests for random number generators by using a three-level test

3レベルテストを用いた乱数発生器の統計的テストにおけるp値近似の品質の検査【JST・京大機械翻訳】

Author (2)： Haramoto Hiroshi (Faculty of Education, Ehime University, Ehime 790-8577, Japan) ,  Matsumoto Makoto (Graduate School of Sciences, Hiroshima University, Hiroshima 739-8526, Japan)
Material： Mathematics and Computers in Simulation  (Math Comput Simul)
Volume： 161  Page： 66-75  Publication year： 2019 
JST Material Number： A0497C  ISSN： 0378-4754  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： Statistical tests of pseudoran...

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Thesaurus term： *quality ,  battery ,  pseudorandom number ,  reliability (property) ,  *random number generator ,  *approximation method ,  experimental method ,  *P-value
Semi thesaurus term： ランダム性 , 【Automatic Indexing@JST】

Author keywords (3)： Statistical testing ,  Pseudorandom number generations ,  Three-level test

JST classification (1)： Numerical computation  (JE02000J)

Terms in the title (6)： テスト ,  乱数発生器 ,  統計 ,  p値 ,  近似 ,  検査