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J-GLOBAL ID：201902251660536936   Reference number：19A1873333

Method combining scanning tunneling microscopy and atom probe tomography for observing inside of materials

材料内部の観察のための走査型トンネル顕微鏡と原子プローブトモグラフィーの組合せ法

Author (3)： UMEMURA Takumi (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  YMAGUCHI Yukihiro (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  KUROKAWA Shu (Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics  (JJAP)
Volume： 58  Issue： 6  Page： 066501.1-066501.6  Publication year： Jun. 2019 
JST Material Number： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *scanning tunneling microscope ,  *tomography ,  flatness(property) ,  field evaporation ,  chemical composition ,  resolving power ,  image reconstruction ,  *morphology ,  *surface structure
Semi thesaurus term： *atom probe tomography ,  atomic resolution ,  tomographic image reconstruction ,  *surface morphology

JST classification (2)： Microscopy determination of structures  (BK01040E) ,  Surface structure of solids in general  (BK15010E)

Reference (41)：

• R. Wiesendanger, Scanning probe microscopy and spectroscopy (Cambridge University Press, Cambridge, 1994), p. 17.
• A. Wang and T. Chien, Phys. Lett. A 382, 739 (2018).
• H. Kimizuka, S. Kurokawa, A. Yamaguchi, A. Sakai, and S. Ogata, Sci. Rep. 4, 7318 (2014).
• S. Kurokawa, A. Yamaguchi, and A. Sakai, Mat. Trans. 54, 1073 (2013).
• J. Hoffman, E. Hudson, K. Lang, V. Madhavan, H. Eisaki, S. Uchida, and J. Davis, Science 295, 466 (2002).

Terms in the title (4)： 観察 ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  原子プローブトモグラフィー ,  組合せ