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J-GLOBAL ID：201902251681586567   Reference number：19A1701480

微粒子の四重極直線型イオントラップによる浮遊・捕捉および光学的測定

Author (3)： UENO SHOKI (大阪大 大学院) ,  MINOWA YOSUKE (大阪大 大学院) ,  ASHIDA MASAAKI (大阪大 大学院)
Material： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
Volume： 74  Issue： 1  Page： ROMBUNNO.15pS-PS-46  Publication year： Mar. 22, 2019 
JST Material Number： S0671C  ISSN： 2189-079X  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： ion trapping ,  silicon dioxide ,  fine particle ,  *nano particle
Semi thesaurus term： ion trap ,  *silica ,  *quadrupole ion trap

JST classification (1)： Mass spectrometers  (BD02060M)

Terms in the title (7)： 微粒子 ,  四重極 ,  直線型 ,  イオントラップ ,  浮遊 ,  捕捉 ,  光学的測定