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J-GLOBAL ID：201902252848662309   Reference number：19A0156994

SEM用ナノインデンテーション装置を用いたサブミクロン球状粒子の圧縮試験(II)

Author (7)： KONDO MITSUHIKO (北大) ,  KOSHIZAKI NAOTO (北大) ,  SHISHIDO NOBUYUKI (北九州市環境エレクトロニクス研) ,  KAMIYA SHOJI (名古屋工大) ,  KUBO ATSUSHI (東大) ,  UMENO YOSHITAKA (東大) ,  ISHIKAWA YOSHIE (産業技術総合研)
Material： 日本セラミックス協会秋季シンポジウム講演予稿集(CD-ROM)
Volume： 31st  Page： ROMBUNNO.1R27  Publication year： Aug. 27, 2018 
JST Material Number： L2240B  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： nanoindentation ,  *compression test ,  silicon carbide ,  electron microscopy ,  fracture testing ,  stress strain curve ,  titanium oxide ,  boron carbide ,  brittle fracture ,  *fracture strength ,  grain size dependence ,  *fine particle ,  copper oxide ,  Silver ,  crushing test ,  Scanning Electron Microscopy ,  curve ,  line ,  *mechanical property ,  *strength
Semi thesaurus term： scanning electron microscopy

JST classification (1)： Ceramic materials  (HC04040H)

Terms in the title (5)： SEM ,  ナノインデンテーション ,  サブ ,  球状粒子 ,  圧縮試験