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J-GLOBAL ID：201902258057754112   Reference number：19A0299942

A Low-Power, Real-Time Displacement Damage Dosimeter

低電力,実時間変位損傷線量計【JST・京大機械翻訳】

Author (7)： Warner Jeffrey H. (U.S. Naval Research Laboratory, Washington, DC, USA) ,  Hoheisel Raymond (Department of Electrical and Computer Engineering, George Washington University, Washington, DC, USA) ,  Cress Cory D (U.S. Naval Research Laboratory, Washington, DC, USA) ,  Jenkins Phillip P. (U.S. Naval Research Laboratory, Washington, DC, USA) ,  Lorentzen Justin R. (U.S. Naval Research Laboratory, Washington, DC, USA) ,  Scheiman David A. (U.S. Naval Research Laboratory, Washington, DC, USA) ,  Yakes Michael K. (U.S. Naval Research Laboratory, Washington, DC, USA)
Material： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Trans Nucl Sci)
Volume： 66  Issue： 1  Page： 290-298  Publication year： 2019 
JST Material Number： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： The Naval Research Laboratory ...

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Thesaurus term： *dosemeter ,  sensor ,  dark current ,  proton ,  calibration curve ,  diode ,  gallium arsenide ,  electronics ,  *radiation dose ,  absorber ,  radiation source ,  dosimetry ,  *displacement damage
Semi thesaurus term： バイアス電圧 ,  *低電力化 , 【Automatic Indexing@JST】

JST classification (2)： Dosimetry and instruments  (AD08050Q) ,  Irradiational changes semiconductors  (BK16123E)

Terms in the title (4)： 低電力 ,  実時間 ,  変位損傷 ,  線量計