Art

J-GLOBAL ID：201902267963956741   Reference number：19A0099151

Refractive-index modifications in SiO₂ Films by Undurator Radiation with a multilayer spectrometer

多層スペクトロメータを用いたアンジュレータ放射によるSiO₂膜における屈折率改良

Author (3)： MORIWAKI K. (Kobe Univ.) ,  TANAKA S. (Kobe Univ.) ,  KANDA K. (Univ. Hyogo)
Material： LASTI Annual Report  (LASTI Annu Rep)
Volume： 19  Page： 33-34  Publication year： Sep. 2018 
JST Material Number： L4711A  ISSN： 2189-6909  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *spectrometer ,  multilayer ,  *synchrotron radiation ,  *refractive index ,  silicon dioxide ,  waveguide ,  optical element ,  synchrotron radiation facility ,  defect ,  exposure radiation dose ,  undulator ,  NewSUBARU ,  *undulator radiation
Semi thesaurus term： 多層スペクトロメータ

JST classification (2)： Irradiational changes of other materials  (BK16124V) ,  Particle motion and radiation by moving particles in electromagnetic fields  (BD01030Y)

Reference (2)：

• K.Moriwaki et al., LASTI Annual Report 17, 55 (2015).
• K.Moriwaki et al., LASTI Annual Report 18, 43 (2016).

Terms in the title (5)： 多層 ,  スペクトロメータ ,  アンジュレータ放射 ,  SiO2 ,  屈折率