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J-GLOBAL ID：201902272674135491   Reference number：19A1740795

XFELによる単一Xeナノ粒子内部の積層欠陥の評価

Author (42)： NIOZU AKINOBU (京大 大学院) ,  NIOZU AKINOBU (理研 RSC) ,  KUMAGAI YOSHIAKI (東北大 多元物質科研) ,  NISHIYAMA TOSHIYUKI (京大 大学院) ,  NISHIYAMA TOSHIYUKI (理研 RSC) ,  FUKUZAWA HIRONOBU (理研 RSC) ,  FUKUZAWA HIRONOBU (東北大 多元物質科研) ,  MOTOMURA KOJI (東北大 多元物質科研) ,  BUCHER Max (アルゴンヌ国研) ,  ITO YUTA (東北大 多元物質科研) ,  TAKANASHI TSUKASA (東北大 多元物質科研) ,  SEN KAZUTAKA (京大 大学院) ,  SEN KAZUTAKA (理研 RSC) ,  SATO YOSHIHIRO (京大 大学院) ,  SATO YOSHIHIRO (理研 RSC) ,  YOU Daehyun (東北大 多元物質科研) ,  ONO TAISHI (東北大 多元物質科研) ,  LI Yiwen (東北大 多元物質科研) ,  KUKK Edwin (トゥルク大) ,  MIRON Catalin (SOLEIL) ,  MIRON Catalin (ELI-NP) ,  NEAGU Liviu (ELI-NP) ,  CALLEGARI Carlo (ELETTRA) ,  FRAIA Michele (ELETTRA) ,  ROSSI Giorgio (ミラノ大) ,  GALLI Davide (ミラノ大) ,  PINCELLI Tomasso (ミラノ大) ,  COLOMBO Alessandro (ミラノ大) ,  KAMESHIMA TAKASHI (JASRI) ,  JOUCHI YASUMASA (JASRI) ,  TOGASHI TADASHI (JASRI) ,  HATSUI TAKAKI (理研 RSC) ,  OWADA SHIGEKI (理研 RSC) ,  KATAYAMA TETSUO (JASRI) ,  TONO KENSUKE (JASRI) ,  YABASHI MAKINA (理研 RSC) ,  MATSUDA KAZUHIRO (京大 大学院) ,  BOSTEDT Christoph (アルゴンヌ国研) ,  NAGAYA KIYONOBU (京大 大学院) ,  NAGAYA KIYONOBU (理研 RSC) ,  UEDA KIYOSHI (理研 RSC) ,  UEDA KIYOSHI (東北大 多元物質科研)
Material： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
Volume： 74  Issue： 1  Page： ROMBUNNO.17aK201-10  Publication year： Mar. 22, 2019 
JST Material Number： S0671C  ISSN： 2189-079X  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *X-ray free electron laser ,  *nano particle ,  *X-Ray Diffraction ,  *Xenon ,  *particle ,  *stacking fault ,  crystal lattice ,  photograph ,  *single particle ,  face-centred cubic lattice ,  *lattice defect
Semi thesaurus term： face-centred cubic lattice ,  streak photography ,  欠陥分布

JST classification (2)： Crystal structure of nonmetallic elements and its compounds  (BK07010N) ,  Lattice defects in other inorganic compounds  (BK12050B)

Terms in the title (5)： XFEL ,  Xe ,  ナノ粒子 ,  積層欠陥 ,  評価