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J-GLOBAL ID：201902275820101737   Reference number：19A1447739

An Introduction to Laser Fault Injection Attack against Secure Embedded Devices

組込機器のセキュリティを脅かすレーザーフォールト攻撃

Author (2)： SUGAWARA TAKESHI (電通大) ,  SAKIYAMA KAZUO (電通大)
Material： レーザー研究  (レーザー学会誌)
Volume： 47  Issue： 6  Page： 305-309  Publication year： Jun. 20, 2019 
JST Material Number： X0335A  ISSN： 0387-0200  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： system interface ,  *security ,  *laser application ,  fault tolerance ,  data protection ,  *embedded system ,  radiation field ,  failure analysis ,  sensor ,  cyberattack
Semi thesaurus term： laser field ,  fault injection ,  attack ,  *embedded device

JST classification (2)： Applications of lasers  (BD04100V) ,  Data protection  (JD01020V)

Reference (11)：

• M. Joye and M. Tunstall: Fault Analysis in Cryptography (Springer-Verlag, Berlin, 2012).
• S. Mangard, E. Oswald, and T. Popp: Power Analysis Attacks - Revealing the Secrets of Smart Card(Springer-Verlag, Berlin, 2007).
• J.-M. Dutertre, V. Beroulle, P. Candelier, S. De Castro, L.-B Faber, M.-L. Flottes, P. Gendrier, D. Hely, R. Leveugle, P. Maistri, G. Di Natale, A. Papadimitriou, and B. Rouzeyre: Proc. 2018 Workshop on Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography (2018) p.1.
• Renesas Technology Corporation: IC Card System Using Photo-Detectors for Protection (US Patent US7042752, 2003).
• E. H. Neto, I. Ribeiro, M. G. Vieira, G. I. Wirth, and F. L. Kastensmidt: IEEE Micro 26 (2006) 10.

Terms in the title (4)： 組込機器 ,  セキュリティ ,  レーザー ,  攻撃