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J-GLOBAL ID：201902277614468614   Reference number：19A1619524

陶磁器の上絵層における有機物分析の試み-飛行時間型二次イオン質量分析による上絵層と釉薬層との界面の成分に関する検討-

Author (4)： HIGUCHI TOMOHIRO (東京都産業技術研究セ) ,  MIZUMOTO KAZUMI (東京藝術大) ,  SHINMEN TOSHIYASU (東京学芸大) ,  NINOMIYA SHUJI (東京学芸大)
Material： 日本文化財科学会大会研究発表要旨集  (Annual Meeting of the Japan Society for Scientific Studies on Cultural Property Abstracts)
Volume： 36th  Page： 324-325  Publication year： Jun. 01, 2019 
JST Material Number： L6643A  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *pottery ,  *secondary ion mass spectrometry ,  *organic analysis ,  *glaze ,  interface (surface) ,  analysis (separation) ,  Glass ,  coating material (paint) ,  glue ,  sample preparation ,  coloring material ,  Endocladiaceae ,  Rhodophyta ,  *TOF-SIMS ,  Cryptogamae
Semi thesaurus term： Rhodophyta ,  *Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry ,  interface analysis

JST classification (1)： Ceramics and ceramic whiteware in general  (YC03010K)

Terms in the title (7)： 陶磁器 ,  有機物分析 ,  試み ,  飛行時間 ,  二次イオン質量分析 ,  釉薬 ,  界面