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J-GLOBAL ID：201902285720572238   Reference number：19A1565900

Atomic-Resolution STEM Imaging for Beam-Sensitive Li-Ion Battery Materials

ビーム感受性Liイオン電池材料についての原子分解能STEMイメージング

Author (8)： NAKAYAMA Kei (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  ISHIKAWA Ryo (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  ISHIKAWA Ryo (JST-PRESTO, Saitama, JPN) ,  KOBAYASHI Shunsuke (Japan Fine Ceramics Center, Nagoya, JPN) ,  SHIBATA Naoya (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  SHIBATA Naoya (Japan Fine Ceramics Center, Nagoya, JPN) ,  IKUHARA Yuichi (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  IKUHARA Yuichi (Japan Fine Ceramics Center, Nagoya, JPN)
Material： AMTC Letters  (International Journal of Advanced Microscopy and Theoretical Calculations)
Volume： 6  Page： 18-19  Publication year： Jun. 2019 
JST Material Number： L7013A  ISSN： 1882-9465  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *lithium ion battery ,  material ,  scanning transmisson electron microscope ,  image processing ,  resolving power ,  *electron microscopy
Semi thesaurus term： imaging ,  atomic resolution ,  battery material

JST classification (2)： Microscopy determination of structures  (BK01040E) ,  Secondary batteries  (YB04030K)

Terms in the title (8)： ビーム ,  感受性 ,  Li ,  イオン ,  電池材料 ,  原子分解能 ,  STEM ,  イメージング