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J-GLOBAL ID：201902287434073139   Reference number：19A0112121

Surface analysis with electrospray droplet ion beams

エレクトロスプレー液滴イオンビームによる表面分析

Author (4)： NINOMIYA SATOSHI (山梨大) ,  SAKAI YUJI (山梨大) ,  CHEN LeeChuin (山梨大) ,  HIRAOKA KENZO (山梨大)
Material： 電気学会研究会資料
Issue： OQD-18-071-079 光・量子デバイス研究会  Page： 29-34  Publication year： Dec. 21, 2018 
JST Material Number： Z0924B  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *nuclear reaction analysis ,  electrospray ionization ,  *nanostructure ,  *droplet ,  secondary ion mass spectrometry ,  X-ray photoelectron spectroscopy ,  *surface analysis ,  *nano droplet ,  *ion-beam analysis
Semi thesaurus term： SIMS(analysis) ,  XPS analysis ,  *ion beam analysis

JST classification (1)： Analytical instruments  (CC02020S)

Terms in the title (4)： エレクトロスプレー ,  液滴 ,  イオンビーム ,  表面分析