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J-GLOBAL ID：201902290977272937   Reference number：19A0103238

レーザーコンプトン散乱ガンマ線による高速陽電子材料検査

Author (7)： MIYAMOTO SHUJI (Univ. Hyogo) ,  SUGITA KENTO (Osaka Prefecture Univ.) ,  HORI FUMINOBU (Osaka Prefecture Univ.) ,  TERASAWA MICHITAKA (Univ. Hyogo) ,  IWASE AKIHIRO (Osaka Prefecture Univ.) ,  AMANO SHO (Univ. Hyogo) ,  HASHIMOTO SATOSHI (Univ. Hyogo)
Material： 日本加速器学会年会(Web)  (日本加速器学会年会プロシーディングス(Web))
Volume： 15th  Page： ROMBUNNO.THP108 (WEB ONLY)  Publication year： 2018 
JST Material Number： U0092A  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *Compton scattering ,  gamma-ray ,  *positron ,  *material testing ,  lifetime ,  synchrotron radiation facility ,  gamma source ,  nondestructive inspection
Semi thesaurus term： NewSUBARU ,  *laser Compton scattering ,  positron lifetime

JST classification (3)： Electron and ion beams  (BD02030F) ,  Nondestructive testing  (HB02030F) ,  Particle accelerators in general and theory  (BE02010M)

Terms in the title (4)： レーザーコンプトン散乱 ,  ガンマ線 ,  陽電子 ,  検査