Art

J-GLOBAL ID：201902296709988826   Reference number：19A2852208

熱電結晶学(2)

Author (1)： MIYAZAKI YUZURU (東北大)
Material： 日本熱電学会誌  (Journal of the Thermoelectrics Society of Japan)
Volume： 14  Issue： 1  Page： 32-36  Publication year： Aug. 28, 2017 
JST Material Number： F2331A  ISSN： 1349-4279  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *X-Ray Diffraction ,  *Rietveld method ,  Voigt function ,  structure factor ,  *crystal structure analysis ,  least squares method ,  chromium compound ,  niobium compound ,  lattice constant ,  thermoelectric material ,  silicide ,  doping ,  effect ,  chromium silicide ,  doping effect

JST classification (1)： Crystallography in general  (BK05010Z)

Reference (12)：

• 中井泉,泉富士夫 編:粉末X線解析の実際(第2版),朝倉書店,(2009).
• Thompson P., Cox D. E. and Hastings J. B.: J. Appl. Crystallogr, 20, 85 (1987).
• Izumi F. and Momma K.: Solid State Phenom., 130, 15 (2007).
• Petricek V., Dusek M. and Palatinus L.: Z. Kristallogr. 229, 345 (2014).
• Le Bail A., Duroy H. and Fourquet J. L.: Mater. Res. Bull., 23, 447 (1988).

Terms in the title (1)： 結晶学