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J-GLOBAL ID:201903005342899980

測定用器具

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 三好 秀和 ,  高橋 俊一
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2015177333
Publication number (International publication number):2017053703
Patent number:6607635
Application date: Sep. 09, 2015
Publication date: Mar. 16, 2017
Claim (excerpt):
【請求項1】 コンタクトレンズに付着した付着物質を表面増強ラマン分光法により測定する際に用いられる測定用器具であって、 前記コンタクトレンズを保持した状態で前記コンタクトレンズに接触する接触面に、表面増強ラマン分光測定用金属ナノ粒子が形成され、 前記コンタクトレンズを配置し且つ透明の部材からなる第1基板と、 前記第1基板に配置される前記コンタクトレンズを押圧し且つ透明の部材からなる第2基板とを備え、 前記金属ナノ粒子は、前記第1基板と前記第2基板との少なくとも一方に形成されることを特徴とする測定用器具。
IPC (1):
G01N 21/65 ( 200 6.01)
FI (1):
G01N 21/65
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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