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J-GLOBAL ID：201903010937996770

検査管理システム、検査管理装置及び検査管理方法

Inventor：
植田 清隆

About 植田 清隆


Applicant, Patent owner：
オムロン株式会社

About オムロン株式会社


Agent (5)： 関根 武彦 ,  中村 剛 ,  今堀 克彦 ,  和久田 純一 ,  矢澤 広伸
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2018081064
Publication number (International publication number)：2019190891
Application date： Apr. 20, 2018
Publication date： Oct. 31, 2019
Summary：
【課題】複数の異なる方式によって被検査物を撮影し、それぞれの撮影方式ごとに欠陥を検出するシート状物品の外観検査において、同一の欠陥を示す複数の欠陥画像データを個別に管理することによる弊害を低減する手段を提供する。【解決手段】シート状の被検査物を検査するための検査管理システムであって、前記被検査物Tの外観を、異なる方式により撮影する複数の撮影手段と、前記複数の撮影手段により撮影されたそれぞれの画像に基づいて、前記被検査物の欠陥を検出する検出手段と、を備える外観検査部と、前記複数の異なる方式の撮影手段ごとに、前記検出手段により検出された欠陥が撮影されている欠陥画像データが記録される記憶部と、前記記憶部に記録された前記被検査物における同一の欠陥が撮影されている複数の欠陥画像データを、1つの同一欠陥画像セットとして処理する同一欠陥画像統合手段を備える、検査管理部と、を有する。【選択図】図3
Claim (excerpt)：
シート状の被検査物の検査を管理するための検査管理システムであって、 前記被検査物の外観を、異なる方式により撮影する複数の撮影手段と、前記複数の撮影手段により撮影されたそれぞれの画像に基づいて、前記被検査物の欠陥を検出する検出手段と、を備える外観検査部と、 前記複数の異なる方式の撮影手段ごとに、前記検出手段により検出された欠陥が撮影されている欠陥画像データが記録される記憶部と、 前記記憶部に記録された前記欠陥画像データの集合のうち、前記被検査物における同一の欠陥が撮影されている複数の欠陥画像データを、1つの同一欠陥画像セットとして処理する同一欠陥画像統合手段を備える、検査管理部と、 を有する、検査管理システム。
IPC (1)：
G01N 21/892
FI (1)：
G01N21/892 A
F-Term (11)：
2G051AA32 ,  2G051AA41 ,  2G051AB01 ,  2G051AB02 ,  2G051BA01 ,  2G051BB01 ,  2G051CA04 ,  2G051CA07 ,  2G051CB03 ,  2G051EB09 ,  2G051EC01
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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