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J-GLOBAL ID：201903013140805146

質量分析装置及び該装置を用いた生体試料の分析方法

Inventor： 財津 桂 ,  林 由美 ,  村田 匡
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所 ,  国立大学法人名古屋大学
Agent (1)： 特許業務法人京都国際特許事務所
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2018503981
Patent number：6586716
Application date： Aug. 26, 2016
Claim (excerpt)：

【請求項1】 導電性の探針と、前記探針に高電圧を印加する高電圧発生部と、前記探針の先端に試料を付着させるべく上下方向に延伸するように配置された前記探針又は該探針の下方に配置された試料の少なくとも一方を上下方向に移動させる変位部と、をイオン源として具備し、前記変位部により前記探針の先端に試料の一部を付着させたあと前記高電圧発生部により該探針に高電圧を印加することによって、エレクトロスプレー現象を利用して試料中の成分を大気圧下でイオン化する質量分析装置において、 試料上であって前記変位部により前記探針又は該試料の少なくとも一方が移動される際に該探針の先端が通過する位置に配置される溶媒供給部を備え、該溶媒供給部は、 a)上面及び底面に前記探針がその延伸方向に挿通可能である開口を有するとともに該底面の開口を閉塞するように遮液性の第1の膜体が設けられた、内部に溶媒が収容される容器部と、 b)前記第1の膜体と所定間隔を有して前記容器部の外側に設けられた遮液性の膜体であり、且つ当該溶媒供給部が試料上に配置されるときに下面が該試料の上面に接触する第2の膜体と、 を有することを特徴とする質量分析装置。

IPC (4)：

G01N 27/62 ( 200 6.01) ,  H01J 49/26 ( 200 6.01) ,  H01J 49/10 ( 200 6.01) ,  H01J 49/04 ( 200 6.01)

FI (4)：

G01N 27/62 F ,  H01J 49/26 ,  H01J 49/10 ,  H01J 49/04